芯片浓度检测
点击：961丨发布时间：2026-02-28 05:39:15丨关键词：CMA/CNAS/ISO资质，中析研究所，芯片浓度检测
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
因业务调整，暂不接受个人委托测试，望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
检测项目
1.主体元素浓度分析：硅含量，氧含量，碳含量，氮含量。
2.掺杂剂元素分析：硼浓度，磷浓度，砷浓度，锑浓度。
3.重金属杂质分析：铁含量，铜含量，镍含量，铬含量，锌含量，铝含量。
4.碱金属与碱土金属分析：钠含量，钾含量，钙含量，镁含量。
5.阴离子杂质分析：氯离子浓度，氟离子浓度，硫酸根离子浓度，硝酸根离子浓度。
6.有机污染物分析：总有机碳含量，特定溶剂残留量。
7.高纯试剂纯度分析：过氧化氢浓度，氢氟酸浓度，盐酸浓度，硫酸浓度，氨水浓度。
8.光刻胶成分分析：固体含量，金属杂质含量，阴离子含量。
9.化学机械抛光液分析：磨料颗粒浓度，氧化剂浓度，添加剂浓度，金属杂质含量。
10.晶圆表面污染物分析：表面金属浓度，表面颗粒物计数。
11.特种气体杂质分析：硅烷纯度，磷烷中杂质含量，砷烷中杂质含量。
12.电镀液成分分析：主盐金属离子浓度，添加剂浓度，杂质金属离子含量。
检测范围
单晶硅抛光片、硅外延片、砷化镓晶圆、光刻胶、显影液、蚀刻液、清洗液、化学机械抛光液、高纯化学试剂、特种电子气体、电镀液、去离子水、晶圆表面污染物、溅射靶材、封装材料
检测设备
1.电感耦合等离子体质谱仪：用于超痕量级金属及掺杂元素的精确定量分析；具备极高的灵敏度与多元素同时检测能力。
2.电感耦合等离子体发射光谱仪：用于常量及微量元素的浓度测定；分析速度快，线性范围宽。
3.原子吸收光谱仪：用于特定金属元素的定量分析；设备操作相对简便，针对性强。
4.离子色谱仪：用于样品中阴离子及碱金属阳离子的分离与定量；对痕量离子分析效果优异。
5.总有机碳分析仪：用于检测水溶液或溶剂中的总有机碳含量；评估有机污染物水平。
6.气相色谱-质谱联用仪：用于复杂基质中有机挥发物及半挥发物的定性与定量分析。
7.傅里叶变换红外光谱仪：用于材料中有机官能团及部分无机成分的定性及半定量分析。
8.紫外可见分光光度计：基于特定化学反应对溶液中目标成分进行定量分析；常用于试剂浓度测定。
9.自动电位滴定仪：用于酸、碱、氧化剂、还原剂等含量的精确滴定分析。
10.激光剥蚀进样系统：与质谱或光谱仪联用，实现对固体样品（如晶圆）表面及内部成分的原位、微区分析。
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
前沿项目